光学计量仪器广泛应用于制造业和国家质检部门。目前尚在应用的光学计量仪器有数十种。本文给出了各种光学计量仪器的名称和典型产品图片，并为每一种仪器，做了简要说明。

　　本文内容,部分参照了国家标准GB/T 13962《光学仪器术语》和GB/T 17164《几何量计量器具术语 产品术语》。

　　基于光学原理，用于对几何量（包括长度、角度、形状、位置和表面形貌等）进行测量的一类光学仪器。

　　基于光学自准直原理和光学杠杆原理，以接触方式对精密零件长度尺寸进行比较测量的光学仪器。又称光学比较仪。

　　立式光学计——测量轴线呈垂直状态的光学计（图b,c,d）。该类型光学计仅能测量外尺寸。

　　卧式光学计——测量轴线呈水平状态的光学计（图e）。该类型光学计既能测量外尺寸，又能测量内尺寸。

　　精密光学计——采用光学倍增器，分度值≦0.2㎛（图a）或分辨力≦0.02㎛的光学计。

　　基于迈克耳逊干涉原理，利用测量光路与参考光路光程差的变化，以接触方式对精密零件长度尺寸进行比较测量的光学仪器。

　　带有长度基准，采用接触方式，测量精密零件长度尺寸的光学仪器。通常，测量范围较长的，称测长机，较短的，称测长仪。

　　立式测长仪——测量轴线呈垂直状态的测长仪（图a）。该类型测长仪仅能测量外尺寸。

　　万能测长仪——测量轴线呈水平状态的测长仪。该类型测长仪既能测量外尺寸，又能测量内尺寸（图b,c,e）。

　　先对量具进行校准，再以量具为中间媒体对大型零件的内、外尺寸进行测量。该过程中，用于校准量具的光学仪器，称端度比长仪。

　　采用光栅数显长度系统，利用测头或量爪对高度方向上的尺寸进行测量的光学仪器。

　　以激光作光源，利用物体对平行光束的遮挡作用，测量物体外形尺寸的光学仪器。

　　利用像点的成像光束在孔壁上的反射，对孔壁进行瞄准，测量精密孔径的光学仪器。

　　基于白光或激光干涉原理，采用接触或非接触方式，测量精密孔径的光学仪器。下图是一种是以量块为基准，利用白光干涉和接触测量方式的孔径测量仪。

　　用白光干涉系统对量块端面进行定位，用激光干涉测量系统测量量块中心长度的量块检定专用仪器。

　　用显微镜瞄准被测件，按平面直角坐标和极坐标进行测量的光学仪器。这种仪器配有顶针架等多种测量附件，瞄准显微镜立柱可作偏摆调节光学计量仪器名录大全（上）。

　　具有瞄准显微镜和平面直角坐标测量系统的一种显微镜。其测量范围比工具显微镜小，显微镜立柱也不能作偏摆调节。

　　——置于被测件上，利用目镜的带尺分划板或读数鼓轮，对物体或物体表面上几何要素的长度尺寸进行测量，并直接在视场中读取示值的一种显微镜（见图a）

　　基于成像在光电耦合器件上的光学影像系统，通过光电耦合器件采集，经过软件处理成像，显示在计算机屏幕上，利用测量软件进行几何运算得出测量结果的测量仪器。deLixin1618.com